半导体行业解决方案

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悉识反射式膜厚测量分析系统 NS-Vista

NS-Vista 是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外，Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。

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德瑞茵ABT2000 全自动推拉力测试机

ABT2000 键合力测试机是一种精密的自动测试仪器，可用于测试半导体和电子制造业中的拉力和剪切力测试应用。自动编程快捷、操作简单，搭配自主软件TRY-I.See.快速自动图像识别定位，适用于半导体封装，LED封装，军工器件等一系列封装工艺，支持破坏性与非破坏性自动测试。

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德国Freiberg XRD单晶定向仪Omega/Theta

全自动测量模式 Omega扫描定向法：针对预定义材料的快速解决方案，选配: Theta扫描定向法：用户自定义模式，定向范围广，摇摆曲线的测量F1009，应用于工业生产实验室的质量控制，是业内最快测量速度钢锭转移技术 (堆叠) 多种选择和配件。

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