2024-05-17
本次展会,日立推出了一系列令人振奋的新产品和新解决方案。首先,扩展了新的镀层分析仪系列。FT200系列可以提供合适的检测器,以满足客户对镀层应用的检测需求。日立引入了新的软件功能,不断创新操作员与X射线荧光(XRF)镀层分析仪的交互方式,通过简化设置和减少出错的可能性,从而提高测试量。还展示了EA1280,这是一种用于测量受管制有害物质的新型能量色散XRF(EDXRF)分析仪。
随着RoHS/ELV等指令的实施,许多包括制造商在内的公司都需要控制其产品中受限物质的含量。新款EA1280具有符合中国国家标准(GB标准)推荐的探测器分辨率,与Si-PIN二极管等其他半导体探测器相比,其工作效率和分析准确度更高。在全球的应用实验室,包括中国,日立拥有一支由经验丰富、专业素质高的应用专家团队。他们精通X射线荧光(XRF)、热分析(TA)、激光诱导击穿光谱(LIBS)和直读光谱(OES)等技术,与客户紧密合作,共同开发和提供材料分析的创新解决方案。
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