扫描电子显微镜
原子力显微镜
超声波影像装置
分光光度计
锂电池异物分析
断面观察用超声波切割仪/离子研磨仪
X射线荧光镀层厚度测量仪
原子吸收分光光度计
ICP-OES/离子色谱系统/气相质谱GC-MS
极表面分析设备
电化学分析设备
X射线荧光分析仪
液相色谱仪/高效全自动氨基酸分析仪
纳米压痕/台阶仪/划痕仪/摩擦磨损分析仪
热分析
X射线衍射仪
温湿度综合测试箱
工业X射线/CT检查装置
火花直读光谱仪
泛用性量测设备
反射式膜厚测量分析系统
反射式膜厚仪/光谱椭偏仪
自动聚焦激光显微镜
半导体行业解决方案
产品
SR-RD-STD反射式膜厚仪
利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。
SE-RD-STD光谱椭偏仪
设备针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度、快速摄谱型光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。仪器基于高灵敏度光谱探测单元和光谱椭偏仪分析软件。SE-RD-STD 拥有强大的材料数据库，极其容易建立或更改一个测量 Recipe。只需按照名称选取材料，就能够更改基底、环境和膜层的光学常数。
Iso 认可的完全非接触点( 先端 0.5um)自动对焦测量方法，提高数据的客观性，兼具高分辨率及高精密载台的标准广范围高速测量系统，适用于透镜的表面缺陷、模塑产品的形状缺陷以及摩擦学磨损与划痕的定量评估，适用领域:学术单位、精密加工、精密冲压、面板、半导体、医疗、电子零件。
选择
产品分类
Product Category
在线咨询
Get In Touch With Us
导航
联系我们
电话
021 5566 9281
手机
136 1180 8029
邮箱
astzhang@zhuangrun-sh.com
地址
黄浦办公室：
上海市黄浦区陆家浜路1011号新世纪大厦510室
杨浦办公室：
上海市杨浦区国霞路16弄君庭广场B座810室
华南办公室：
广东省东莞市长安镇振安东路775号2438室
南京办公室：
南京市花园路11号1栋116室
台湾公司信息 泰傳科技股份有限公司
總公司桃園市中壢區青峰路一段57號6F
+886-3-3565696
辦事處 台南市永康區永科3路99號3F-6
+886-6-2313885
