产品

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    安东帕 模块化紧凑型流变仪 MCR503

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    悉识 反射式膜厚测量分析系统 NS-Vista

    NS-Vista 是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力,在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外,Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。

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